E DIN IEC 60749-33:2002-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance; Unbiased autoclave.

NORMA vydána dne 1.10.2002

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (1180.20 CZK)

Anglicky a německy -

Tištěné (1510.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E DIN IEC 60749-33:2002-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.10.2002
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy E DIN IEC 60749-33:2002-10 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: Beschleunigte Feuchtebeständigkeit; Autoclave ohne Vorspannung.