E DIN IEC 60749-28:2003-02

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Charged device model (CDM).

NORMA vydána dne 1.2.2003

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (1530.80 CZK)

Anglicky a německy -

Tištěné (1955.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E DIN IEC 60749-28:2003-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.2.2003
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy E DIN IEC 60749-28:2003-02 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD); Charged Device Model (CDM).