NORMSERVIS s.r.o.

E DIN IEC 60749-23:2002-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.

NORMA vydána dne 1.10.2002

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (1189.00 CZK)
Anglicky a německy -
Tištěné (1521.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E DIN IEC 60749-23:2002-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.10.2002
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy E DIN IEC 60749-23:2002-10 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.