E DIN EN IEC 63616:2026-07

VDE 0887-969-73. Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method.

NORMA vydána dne 1.7.2026

Německy -
Tištěné (572.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E DIN EN IEC 63616:2026-07
Datum vydání normy: 1.7.2026
Počet stran: 13
Přibližná hmotnost: 39 g (0.09 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy E DIN EN IEC 63616:2026-07 :

VDE 0887-969-73. Messung der Leitfähigkeit von Metalldünnschichten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.