Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile.
NORMA vydána dne 1.6.2022
Označení normy: E DIN EN IEC 63287-2:2022-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2022
Počet stran: 29
Přibližná hmotnost: 87 g (0.19 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne - Teil 2: Konzept des Einsatzprofils.