E DIN EN IEC 60749-5:2024-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.

NORMA vydána dne 1.4.2024

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (1689.70 CZK)

Anglicky a německy -

Tištěné (2168.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E DIN EN IEC 60749-5:2024-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.4.2024
Počet stran: 17
Přibližná hmotnost: 51 g (0.11 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy E DIN EN IEC 60749-5:2024-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.