E DIN EN IEC 60749-34-1:2024-08

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module.

NORMA vydána dne 1.8.2024

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (2565.90 CZK)

Anglicky a německy -

Tištěné (3284.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E DIN EN IEC 60749-34-1:2024-08
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.8.2024
Počet stran: 37
Přibližná hmotnost: 111 g (0.24 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy E DIN EN IEC 60749-34-1:2024-08 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34-1: Leistungszyklusprüfung für Leistungshalbleitermodule.