E DIN EN 60749-43:2013-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plan.

NORMA vydána dne 1.10.2013

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (2986.60 CZK)

Anglicky a německy -

Tištěné (3610.10 CZK)

Anglicky a německy -

CD-ROM (3023.60 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E DIN EN 60749-43:2013-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.10.2013
Počet stran: 63
Přibližná hmotnost: 189 g (0.42 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy E DIN EN 60749-43:2013-10 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 43: Leitfaden zur Planung der Zuverlässigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen.