E DIN EN 62047-29:2016-08

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 29: Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature.

NORMA vydána dne 1.8.2016

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (1670.80 CZK)

Anglicky a německy -

Tištěné (2085.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E DIN EN 62047-29:2016-08
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.8.2016
Počet stran: 19
Přibližná hmotnost: 57 g (0.13 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy E DIN EN 62047-29:2016-08 :

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 29: Elektromechanisches Relaxations-Prüfverfahren für freistehende elektrisch leitende Dünnschichten bei Raumtemperatur.