E DIN EN 60749-5:2016-12

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.

NORMA vydána dne 1.12.2016

Německy -
Elektronické PDF (1529.20 CZK)

Německy -

Tištěné (1953.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E DIN EN 60749-5:2016-12
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.12.2016
Počet stran: 15
Přibližná hmotnost: 45 g (0.10 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy E DIN EN 60749-5:2016-12 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.