E DIN EN 60749-44:2014-08

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.

NORMA vydána dne 1.8.2014

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The information about the standard:

Designation standards: E DIN EN 60749-44:2014-08
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.8.2014
The number of pages: 33
Approximate weight : 99 g (0.22 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text E DIN EN 60749-44:2014-08 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen.