E DIN EN 60749-41:2017-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Reliability testing methods of non-volatile memory devices.

NORMA vydána dne 1.4.2017

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (2560.70 CZK)

Anglicky a německy -

Tištěné (3277.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E DIN EN 60749-41:2017-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.4.2017
Počet stran: 35
Přibližná hmotnost: 105 g (0.23 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy E DIN EN 60749-41:2017-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Zuverlässigkeitsprüfverfahren für nichtflüchtige Speicher-Bauelemente.