E DIN EN 60749-30/A1:2009-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing.

NORMA vydána dne 1.10.2009

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (1187.80 CZK)

Anglicky a německy -

Tištěné (1519.90 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: E DIN EN 60749-30/A1:2009-10
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.10.2009
The number of pages: 10
Approximate weight : 30 g (0.07 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text E DIN EN 60749-30/A1:2009-10 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen.