E DIN EN 60749-3:2017-05

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination.

NORMA vydána dne 1.5.2017

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (1691.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E DIN EN 60749-3:2017-05
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.5.2017
Počet stran: 19
Přibližná hmotnost: 57 g (0.13 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy E DIN EN 60749-3:2017-05 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung.