E DIN EN 60749-3:2017-05

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination.

NORMA vydána dne 1.5.2017

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The information about the standard:

Designation standards: E DIN EN 60749-3:2017-05
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.5.2017
The number of pages: 19
Approximate weight : 57 g (0.13 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text E DIN EN 60749-3:2017-05 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung.