E DIN EN 60749-29:2002-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NORMA vydána dne 1.9.2002

Informace o normě:

Označení normy: E DIN EN 60749-29:2002-09
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.9.2002
Počet stran: 33
Přibližná hmotnost: 99 g (0.22 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN