NORMSERVIS s.r.o.

E DIN EN 60749-29:2002-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NORMA vydána dne 1.9.2002

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (2216.10 CZK)
Anglicky a německy -
Tištěné (2844.00 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: E DIN EN 60749-29:2002-09
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.9.2002
The number of pages: 33
Approximate weight : 99 g (0.22 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text E DIN EN 60749-29:2002-09 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.