E DIN EN 60749-29:2009-11

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NORMA vydána dne 1.11.2009

Informace o normě:

Označení normy: E DIN EN 60749-29:2009-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2009
Počet stran: 45
Přibližná hmotnost: 135 g (0.30 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN