E DIN EN 60749-23/A1:2009-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.

NORMA vydána dne 1.9.2009

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (1018.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E DIN EN 60749-23/A1:2009-09
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.9.2009
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy E DIN EN 60749-23/A1:2009-09 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.