
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionising Radiation (total dose); Test procedure.
NORMA vydána dne 1.5.2002
Označení normy: E DIN EN 60749-18:2002-05
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.5.2002
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 18: Ionisierende Strahlung (Gesamtdosis); Prüfverfahren.