Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - General.
NORMA vydána dne 1.6.2002
Označení normy: E DIN EN 60749-1:2002-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2002
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Allgemeines.