DIN SPEC 52407:2015-03

Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM).

NORMA vydána dne 1.3.2015

Německy -
PDF - okamžité stažení (1642.50 CZK)

Německy -

Tištěné (2104.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN SPEC 52407:2015-03
Datum vydání normy: 1.3.2015
Počet stran: 23
Přibližná hmotnost: 69 g (0.15 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN SPEC 52407:2015-03 :

Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM).