VDE V 0847-22-9. Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method.
NORMA vydána dne 1.8.2015
Označení normy: DIN IEC/TS 62132-9:2015-08
Datum vydání normy: 1.8.2015
Počet stran: 26
Přibližná hmotnost: 78 g (0.17 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
VDE V 0847-22-9. Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 9: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - Verfahren der Oberflächenabtastung.