
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile.
NORMA vydána dne 1.10.2024
Označení normy: DIN EN IEC 63287-2:2024-10
Datum vydání normy: 1.10.2024
Počet stran: 19
Přibližná hmotnost: 57 g (0.13 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne - Teil 2: Konzept des Einsatzprofils.