DIN EN IEC 60749-37:2023-12

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer.

NORMA vydána dne 1.12.2023

Německy -
PDF - okamžité stažení (2543.30 CZK)

Německy -

Tištěné (3255.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN IEC 60749-37:2023-12
Datum vydání normy: 1.12.2023
Počet stran: 23
Přibližná hmotnost: 69 g (0.15 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN IEC 60749-37:2023-12 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes.