DIN EN IEC 60749-34-1:2026-07

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module.

NORMA vydána dne 1.7.2026

Německy -
PDF - okamžité stažení (2819.20 CZK)

Německy -

Tištěné (3620.90 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN IEC 60749-34-1:2026-07
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.7.2026
The number of pages: 29
Approximate weight : 87 g (0.19 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN IEC 60749-34-1:2026-07 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34-1: Leistungszyklusprüfung für Leistungshalbleitermodule.