DIN EN IEC 60749-34-1:2026-07

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module.

NORMA vydána dne 1.7.2026

Německy -
PDF - okamžité stažení (2816.90 CZK)

Německy -

Tištěné (3617.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN IEC 60749-34-1:2026-07
Datum vydání normy: 1.7.2026
Počet stran: 29
Přibližná hmotnost: 87 g (0.19 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN IEC 60749-34-1:2026-07 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34-1: Leistungszyklusprüfung für Leistungshalbleitermodule.