DIN EN 60749-5:2003-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.

NORMA vydána dne 1.9.2003

Německy -
PDF - okamžité stažení (1309.50 CZK)

Německy -

Tištěné (1580.10 CZK)

Německy -

CD-ROM (1346.70 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 60749-5:2003-09
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.9.2003
The number of pages: 10
Approximate weight : 30 g (0.07 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 60749-5:2003-09 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.