Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength.
NORMA vydána dne 1.12.2003
Označení normy: DIN EN 60749-22:2003-12
Datum vydání normy: 1.12.2003
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 22: Kontaktfestigkeit (Bond-Strength).