DIN EN 62415:2010-12

Semiconductor devices - Constant current electromigration test.

NORMA vydána dne 1.12.2010

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 62415:2010-12
Datum vydání normy: 1.12.2010
Počet stran: 12
Přibližná hmotnost: 36 g (0.08 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN