NORMSERVIS s.r.o.

DIN EN 62374-1:2011-06

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers.

NORMA vydána dne 1.6.2011

Německy -
PDF - okamžité stažení (2366.90 CZK)
Německy -
Tištěné (2944.10 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 62374-1:2011-06
Datum vydání normy: 1.6.2011
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 62374-1:2011-06 :

Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen.