DIN EN 62374:2008-02

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.

NORMA vydána dne 1.2.2008

Německy -
PDF - okamžité stažení (2515.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 62374:2008-02
Datum vydání normy: 1.2.2008
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 62374:2008-02 :

Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.