NORMSERVIS s.r.o.

DIN EN 62047-3:2007-02

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile-testing.

NORMA vydána dne 1.2.2007

Německy -
PDF - okamžité stažení (1327.10 CZK)
Německy -
Tištěné (1647.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 62047-3:2007-02
Datum vydání normy: 1.2.2007
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 62047-3:2007-02 :

Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 3: Dünnschicht-Standardmikroprobe für die Prüfung der Zugbeanspruchung.