Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials.
NORMA vydána dne 1.10.2012
Označení normy: DIN EN 62047-14:2012-10
Datum vydání normy: 1.10.2012
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 14: Verfahren zur Ermittlung der Grenzformänderung metallischer Dünnschichtwerkstoffe.