DIN EN 60749-7:2003-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.

NORMA vydána dne 1.4.2003

Německy -
PDF - okamžité stažení (1358.80 CZK)

Německy -

Tištěné (1733.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-7:2003-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.4.2003
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-7:2003-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 7: Messung des inneren Feuchtegehaltes und Analyse von anderen Restgasen.