
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.
NORMA vydána dne 1.4.2003
Designation standards: DIN EN 60749-7:2003-04
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.4.2003
The number of pages: 10
Approximate weight : 30 g (0.07 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 7: Messung des inneren Feuchtegehaltes und Analyse von anderen Restgasen.