DIN EN 60749-6:2003-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature.

NORMA vydána dne 1.4.2003

Německy -
PDF - okamžité stažení (1006.10 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 60749-6:2003-04
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.4.2003
The number of pages: 7
Approximate weight : 21 g (0.05 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 60749-6:2003-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur.