DIN EN 60749-5:2003-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.

NORMA vydána dne 1.9.2003

Německy -
PDF - okamžité stažení (1327.10 CZK)

Německy -

Tištěné (1647.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-5:2003-09
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.9.2003
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-5:2003-09 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.