DIN EN 60749-44:2017-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.

NORMA vydána dne 1.4.2017

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Designation standards: DIN EN 60749-44:2017-04
Publication date standards: 1.4.2017
The number of pages: 22
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Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 60749-44:2017-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen.