DIN EN 60749-40:2012-02

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge.

NORMA vydána dne 1.2.2012

Německy -
PDF - okamžité stažení (2515.50 CZK)

Německy -

Tištěné (3128.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-40:2012-02
Datum vydání normy: 1.2.2012
Počet stran: 23
Přibližná hmotnost: 69 g (0.15 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-40:2012-02 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen.