DIN EN 60749-38:2008-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory.

NORMA vydána dne 1.10.2008

Německy -
PDF - okamžité stažení (1509.20 CZK)

Německy -

Tištěné (1874.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-38:2008-10
Datum vydání normy: 1.10.2008
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-38:2008-10 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher.