DIN EN 60749-37:2008-08

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer.

NORMA vydána dne 1.8.2008

Německy -
PDF - okamžité stažení (2538.50 CZK)

Německy -

Tištěné (3157.40 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 60749-37:2008-08
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.8.2008
The number of pages: 22
Approximate weight : 66 g (0.15 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 60749-37:2008-08 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes.