DIN EN 60749-35:2007-03

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.

NORMA vydána dne 1.3.2007

Německy -
PDF - okamžité stažení (2366.90 CZK)

Německy -

Tištěné (2944.10 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 60749-35:2007-03
Publication date standards: 1.3.2007
The number of pages: 21
Approximate weight : 63 g (0.14 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 60749-35:2007-03 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik.