NORMSERVIS s.r.o.

DIN EN 60749-3:2003-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection.

NORMA vydána dne 1.4.2003

Německy -
PDF - okamžité stažení (811.00 CZK)
Německy -
Tištěné (1013.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-3:2003-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.4.2003
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-3:2003-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung.