NORMSERVIS s.r.o.

DIN EN 60749-3:2003-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection.

NORMA vydána dne 1.4.2003

Německy -
PDF - okamžité stažení (825.90 CZK)
Německy -
Tištěné (1032.50 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 60749-3:2003-04
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.4.2003
The number of pages: 5
Approximate weight : 15 g (0.03 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 60749-3:2003-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung.