DIN EN 60749-3:2018-01

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination.

NORMA vydána dne 1.1.2018

Německy -
PDF - okamžité stažení (2040.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-3:2018-01
Datum vydání normy: 1.1.2018
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-3:2018-01 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung.