NORMSERVIS s.r.o.

DIN EN 60749-29:2004-07

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NORMA vydána dne 1.7.2004

Německy -
PDF - okamžité stažení (2393.60 CZK)
Německy -
Tištěné (3062.40 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 60749-29:2004-07
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.7.2004
The number of pages: 22
Approximate weight : 66 g (0.15 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 60749-29:2004-07 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.