DIN EN 60749-29:2004-07

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NORMA vydána dne 1.7.2004

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-29:2004-07
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.7.2004
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN