NORMSERVIS s.r.o.

DIN EN 60749-29:2012-01

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NORMA vydána dne 1.1.2012

Německy -
PDF - okamžité stažení (2682.20 CZK)
Německy -
Tištěné (3338.30 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 60749-29:2012-01
Publication date standards: 1.1.2012
The number of pages: 27
Approximate weight : 81 g (0.18 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 60749-29:2012-01 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.