NORMSERVIS s.r.o.

DIN EN 60749-29:2012-01

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NORMA vydána dne 1.1.2012

Německy -
PDF - okamžité stažení (2629.70 CZK)
Německy -
Tištěné (3273.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-29:2012-01
Datum vydání normy: 1.1.2012
Počet stran: 27
Přibližná hmotnost: 81 g (0.18 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-29:2012-01 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.