DIN EN 60749-28:2018-02

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.

NORMA vydána dne 1.2.2018

Německy -
Tištěné (3071.10 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-28:2018-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.2.2018
Počet stran: 50
Přibližná hmotnost: 150 g (0.33 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-28:2018-02 :

VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.