NORMSERVIS s.r.o.

DIN EN 60749-23:2004-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.

NORMA vydána dne 1.10.2004

Německy -
PDF - okamžité stažení (1541.90 CZK)
Německy -
Tištěné (1970.10 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-23:2004-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.10.2004
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-23:2004-10 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.