NORMSERVIS s.r.o.

DIN EN 60749-2:2003-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure.

NORMA vydána dne 1.4.2003

Německy -
PDF - okamžité stažení (1351.60 CZK)
Německy -
Tištěné (1678.30 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-2:2003-04
Datum vydání normy: 1.4.2003
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-2:2003-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck.