Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods.
NORMA vydána dne 1.2.2000
Označení normy: DIN EN 60749:2000-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.2.2000
Počet stran: 30
Přibližná hmotnost: 90 g (0.20 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren.