
Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV).
NORMA vydána dne 1.4.2011
Označení normy: DIN EN 15991:2011-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.4.2011
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Prüfung keramischer Roh- und Werkstoffe - Direkte Bestimmung der Massenanteile von Spurenverunreinigungen in pulver- und kornförmigem Siliciumcarbid mittels optischer Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP OES) und elektrothermischer Verdampfung (ETV).