DIN 50455-2:1999-11

Testing of materials for semiconductor technology - Methods for the characterisation photoresists - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists.

NORMA vydána dne 1.11.1999

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1039.10 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1325.40 CZK)

Německy -

PDF - okamžité stažení (827.30 CZK)

Německy -

Tištěné (1063.90 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN 50455-2:1999-11
Publication date standards: 1.11.1999
The number of pages: 4
Approximate weight : 12 g (0.03 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN 50455-2:1999-11 :

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 2: Bestimmung der Lichtempfindlichkeit von Positiv-Fotolacken.