
Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium-dioxid coating; optical method.
NORMA vydána dne 1.10.1990
Designation standards: DIN 50453-2:1990-10
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.10.1990
The number of pages: 2
Approximate weight : 6 g (0.01 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung der Ätzrate von Ätzmischungen; Siliciumdioxid-Schichten; Optisches Verfahren.